Szczegóły publikacji
| Autorzy | P.V. Galiy, T.M. Nenchuk, O.R. Dveriy, A. Ciszewski, P. Mazur, S. Zuber |
| Temat publikacji | Atomic force microscopy study of the cleavage surfaces of In<sub>4</sub>Se<sub>3</sub> layered semiconductor crystal, Physica |
| Magazyn | Physica E |
| Nakład | 41 |
| Rok publikacji | 2009 |
| Strony | 465-469. |