Szczegóły publikacji
| Autorzy | R. Wasielewski, J. Domaradzki, D. Wojcieszak, D. Kaczmarek, A. Borkowska, E.L. Prociow, A. Ciszewski |
| Temat publikacji | Surface characterization of TiO<sub>2</sub> thin films obtained by high-energy reactive magnetron sputtering |
| Magazyn | Applied Surface Science |
| Nakład | 254 |
| Rok publikacji | 2008 |
| Strony | 4396-4400. |